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एलएमईसी-1 यंग मापांक उपकरण - हॉल सेंसर विधि

संक्षिप्त वर्णन:

यह उपकरण झुकने की विधि द्वारा ठोस पदार्थों के यंग के मापांक के मापन और माप सटीकता में सुधार करने के लिए सामग्री के छोटे विरूपण को मापने के लिए हॉल सेंसर की शुरूआत पर आधारित है। हॉल पोजिशन सेंसर के आउटपुट वोल्टेज और विस्थापन राशि के बीच रैखिक संबंध के अंशांकन और छोटे विस्थापन राशि के माप के माध्यम से, छात्र छोटे विस्थापन राशि के गैर-विद्युत विद्युत माप की नई विधि को समझ सकते हैं और उसमें महारत हासिल कर सकते हैं।


उत्पाद विवरण

उत्पाद टैग

मुख्य प्रयोगात्मक सामग्री
1、हॉल स्थिति सेंसर का सिद्धांत और अंशांकन।
2、झुकने विधि द्वारा यंग मापांक माप का सिद्धांत।
3, विभिन्न सामग्रियों के यंग मापांक का मापन।
मुख्य तकनीकी मापदंड
1, रीडिंग माइक्रोस्कोप आवर्धन: 20 गुना; अनुक्रमण मूल्य: 0.01 मिमी; माप सीमा: 0-6 मिमी।
2、वजन: 10.0g, 20.0g दो प्रकार।


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