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विवर्तन तीव्रता का एलसीपी-27 मापन

संक्षिप्त वर्णन:

प्रायोगिक प्रणाली मुख्य रूप से कई भागों से मिलकर बनी है, जैसे प्रायोगिक प्रकाश स्रोत, विवर्तन प्लेट, तीव्रता रिकॉर्डर, कंप्यूटर और संचालन सॉफ्टवेयर। कंप्यूटर इंटरफ़ेस के माध्यम से, प्रायोगिक परिणामों को ऑप्टिकल प्लेटफॉर्म के साथ संलग्न करके उपयोग किया जा सकता है, और इसे स्वतंत्र रूप से भी प्रयोग के लिए उपयोग किया जा सकता है। प्रणाली में प्रकाश की तीव्रता मापने के लिए एक फोटोइलेक्ट्रिक सेंसर और उच्च परिशुद्धता वाला विस्थापन सेंसर है। ग्रेटिंग रूलर विस्थापन को माप सकता है और विवर्तन तीव्रता के वितरण को सटीक रूप से माप सकता है। कंप्यूटर डेटा अधिग्रहण और प्रसंस्करण को नियंत्रित करता है, और माप परिणामों की तुलना सैद्धांतिक सूत्र से की जा सकती है।


उत्पाद विवरण

उत्पाद टैग

प्रयोगों

1. एकल स्लिट, बहु स्लिट, छिद्रित और बहु-आयताकार विवर्तन का परीक्षण, विवर्तन तीव्रता का नियम प्रयोगात्मक परिस्थितियों के साथ बदलता है

2. कंप्यूटर का उपयोग एकल स्लिट की सापेक्ष तीव्रता और तीव्रता वितरण को रिकॉर्ड करने के लिए किया जाता है, और एकल स्लिट विवर्तन की चौड़ाई का उपयोग एकल स्लिट की चौड़ाई की गणना करने के लिए किया जाता है।

3. बहु-स्लिट, आयताकार छिद्र और वृत्ताकार छिद्र के विवर्तन के तीव्रता वितरण का अवलोकन करना।

4. एकल स्लिट के फ्रौनहोफर विवर्तन का अवलोकन करना।

5. प्रकाश की तीव्रता के वितरण का निर्धारण करना।

 

विशेष विवरण

वस्तु

विशेष विवरण

ही-एनई लेजर >1.5 मेगावाट @ 632.8 एनएम
एकल भट्ठा 0 ~ 2 मिमी (समायोज्य) 0.01 मिमी की सटीकता के साथ
छवि मापन सीमा स्लिट की चौड़ाई 0.03 मिमी, स्लिट के बीच की दूरी 0.06 मिमी
प्रक्षेपी संदर्भ ग्रेटिंग स्लिट की चौड़ाई 0.03 मिमी, स्लिट के बीच की दूरी 0.06 मिमी
सीसीडी प्रणाली स्लिट की चौड़ाई 0.03 मिमी, स्लिट के बीच की दूरी 0.06 मिमी
मैक्रो लेंस सिलिकॉन फोटोसेल
एसी पावर वोल्टेज 200 मिमी
मापन सटीकता ± 0.01 मिमी

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