LEEM-3 विद्युत क्षेत्र मानचित्रण उपकरण

संक्षिप्त वर्णन:

इंजीनियरिंग प्रौद्योगिकी में, विद्युत क्षेत्र में इलेक्ट्रॉनों या आवेशित कणों की गति के नियम का अध्ययन करने के लिए इलेक्ट्रोड प्रणाली के विद्युत क्षेत्र वितरण को जानना अक्सर आवश्यक होता है। उदाहरण के लिए, ऑसिलोस्कोप ट्यूब में इलेक्ट्रॉन बीम के फोकसिंग और विक्षेपण का अध्ययन करने के लिए, ऑसिलोस्कोप ट्यूब में इलेक्ट्रोड के विद्युत क्षेत्र के वितरण को जानना आवश्यक है। इलेक्ट्रॉन ट्यूब में, हमें नए इलेक्ट्रोडों के परिचय के इलेक्ट्रॉनों की गति पर प्रभाव का अध्ययन करने की आवश्यकता होती है, और इसके लिए हमें विद्युत क्षेत्र के वितरण को जानना भी आवश्यक है। सामान्यतः, विद्युत क्षेत्र के वितरण का पता लगाने के लिए विश्लेषणात्मक विधि और सिमुलेशन प्रयोग विधि का उपयोग किया जा सकता है। लेकिन केवल कुछ सरल मामलों में ही विश्लेषणात्मक विधि द्वारा विद्युत क्षेत्र वितरण प्राप्त किया जा सकता है। सामान्य या जटिल इलेक्ट्रोड प्रणाली के लिए, इसे आमतौर पर सिमुलेशन प्रयोग द्वारा निर्धारित किया जाता है। सिमुलेशन प्रयोग विधि की कमी यह है कि इसकी सटीकता उच्च नहीं होती है, लेकिन सामान्य इंजीनियरिंग डिजाइन के लिए यह आवश्यकताओं को पूरा कर सकती है।